《中国康复理论与实践》 ›› 2012, Vol. 18 ›› Issue (8): 721-723.
苏玉盛,马云川,尚建文,王曼,张琳瑛
SUYu-sheng, MA Yun-chuan, SHANG Jian-wen, et al
摘要: 目的利用正电子发射断层扫描(PET)和统计参数图(SPM)研究成人缺血缺氧性脑病(HIE)脑葡萄糖代谢损伤特点,用以评价HIE 脑代谢损伤程度。方法26 例HIE 患者和20 名健康对照者,均行18F 标记的氟代脱氧葡萄糖(18F-FDG)脑PET 显像。目视法分析观察脑内放射性减低区的位置、范围和减低程度;利用SPM对其PET 影像进行分析,获得SPM三维投影图像和KE值。结果葡萄糖代谢减低以双侧性减低为主;双侧基底节和丘脑代谢减低最为明显;大脑皮质各叶出现代谢减低按易受损程度从高到低依次为额叶、枕叶、顶叶和颞叶;将基底节和丘脑作为评价代谢损伤程度的重要靶区,结合脑皮质损害情况,将缺血缺氧性脑病代谢损伤程度分为三级:Ⅰ级(轻度损伤)、Ⅱ级(中度损伤)和Ⅲ级(重度损伤)。结论基底节和丘脑是评价代谢损伤程度的重要靶区,结合脑皮质损伤程度和范围可对HIE 的代谢损伤程度进行分级,用以指导临床治疗和预后评价